TG10M-X-L片材測厚儀

本測厚儀采用國際上新的核物理探測技術(shù),信號采集及厚度控制由工業(yè)計算機集中管理,測量精度高,可長期連續(xù)運行,故障率低,可定制各種規(guī)格測厚儀。廣泛應(yīng)用于CPP、PE、PS、PA、PET、PC、PVC流延生產(chǎn)線、壓延生產(chǎn)線厚度測量及控制。

適合產(chǎn)品：CPP、PE、PS、PA、PET、PC、PVC等膜材、片材、板材

性能參數(shù)表

測量原理

射線測量原理

射線發(fā)生器將射線投射到被測基材，一部分被基材吸收，一部分刺穿過被測基材后被探測器接收，系統(tǒng)分析射線的強度變化及被測基材的厚度相關(guān)特性，計算出被測基材的面密度及厚度。射線在穿透被測材料時，其強度呈指數(shù)規(guī)律衰減，其衰減公式為：I=I0 e-μh, I為穿過物體后的射線強度，I0為初始射線強度，μ為衰減系數(shù)也叫吸收系數(shù)，h為被測材料厚度。

對于不同的材料，其μ值是不同的，因此使用射線測量厚度時必須知道被測材料的μ值。一般而言密度越大的材料其μ值就越大，比如鉛的密度在天然非放射性元素中的密度是很大的，相應(yīng)的射線阻擋能力就越強。

激光測量原理

激光測厚儀是基于三角測距原理，使用集成式的三角測距傳感器測量出從安裝支架到物體表面的距離，進而根據(jù)支架的固定距離計算得出物體的厚度。當(dāng)被測物的厚度發(fā)生變化后，激光發(fā)生器發(fā)射的激光照射到被測物，經(jīng)反射后照射到激光接收器上的位置將發(fā)生位移變化，通過幾何計算便可知被測物厚度的變化量，并將厚度信號以數(shù)字或曲線方式輸出。

測厚時上下兩個激光位移傳感器對射并分別測量被測體上表面的位置和下表面的位置，計算后得到被測體的厚度(如上圖：被測體厚度h=L-A-B)。

特征激光譜測量原理

特征激光譜測量塑料基材上的涂層技術(shù)采用的是特征激光譜測量技術(shù)，特征激光譜發(fā)生器將激光投射到被測基材，一部分為被測基材吸收，一部分刺穿過被測基材后被探測器接收，系統(tǒng)分析接收到的激光強度變化及被測基材的厚度相關(guān)特性，計算出被測基材的面密度及厚度。

具體計算公式為：I=I0e-gμh, I為穿過物體后的接收到的激光強度，I0為初始激光強度，μ為線質(zhì)系數(shù)，g 為材料密度，h為被測材料厚度。

紅外線測量原理

各類膠粘涂層對一些特定波長的紅外光表現(xiàn)出強烈的吸收特性，當(dāng)用這些特定波長的紅外線照射在涂層物料時，紅外線會被涂層物料特定成分吸收部分能量，含特定的成分越多吸收也越多，系統(tǒng)分析接收到的紅外線強度變化及被測涂層的厚度相關(guān)特性，計算出被測涂層的面密度及厚度。

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